SEM

Microanalysis

In  both  SEM  and  TEM , high  spatial  resolution  microanalysis  of  materials  is  possible . The spatial  resolution  of  the  analysis  is  made  possible  by  the  small  dimensions  of  the  excitation  beam , which  is  of  the  order  of  a  few  nanometers  in  state –of-the-art  instruments. The  electron  beam  causes  various  excitations  in  the  sample, […]

By sivasankari B |
DETAIL

SEM:Modern Advances

Please Login to view this page

By sivasankari B |
DETAIL
TOP
error: